外観検査アルゴリズムコンテスト2017Algorithm Contest 2017
CATEGORY：CONTEST
- Period
- June 30, 2017- September 29, 2017
- Contact
画像応用技術専門委員会
「外観検査アルゴリズムコンテスト」事務局
T E L： (03)3367-0571
E-mail： iaip@adcom-media.co.jp- Deadline
- 〈Entry〉August 4, 2017
〈Submission〉September 29, 2017 - Organizer
精密工学会 画像応用技術専門委員会
Technical Committee on Industrial Application of Image Processing- URL
-
http://alcon.itlab.org/summary/
- Notes
《Result》 http://www.riken.jp/brict/RBio/ViEWAlconResult17.html
